ReportGem ReportGem

中文会议纪要

中芯国际 N+3 工艺核心实测数据与技术路径分析

会议日期: 2026-07-22会议类型: 行业会议机构: SemiAnalysis地区: 国内会议问答数量: 7

公开摘要

本次会议基于 SemiAnalysis 旗下 STEEL 拆解实验室对华为麒麟 9010 芯片的实测数据,分析了中芯国际 N+3 工艺的密度、性能及技术路径。核心结论:中芯国际 N+3 工艺在最小金属间距(32.5nm)和晶体管密度(1.3亿/平方毫米)上优于台积电 N6 工艺(40nm,1.08亿/平方毫米),但这是通过多重图案化和设计工艺协同优化(DTC

本页仅展示公开检索接口已提供的短摘要;完整纪要、问答和音频需登录并校验会员权益。

查看会议访问权限